Вид документа:

Складова частина документа

УДК:

620.179.17

Руженцев И.В. Спектральный анализ корреляционной функции при толщинометрии ЭМА методом / И.В. Руженцев, А.В. Марченко // Радиотехника. – 2005. – №Вып. 143. – С.30–33.



Складова документа:Шифр: 621.396(06) Р15
Радиотехника : всеукр. межведомств. науч.-техн. сб. Вып. 143 / МОН Украины, Харьк. нац. ун-т радиоэлектроники. – Харьков : ХНУРЭ, 2005. – 240 с. – 20,00


Анотація:
Описан новый способ обработки отраженных от дна изделия ультразвуковых колебаний, который позволяет значительно повысить чувствительность ЭМА метода и упростить процедеру измерения толщины металлических изделий