Киргизова А.В. Методика и результаты экспериментальных исследований сбоеустойчивости КМОП КНС оперативных запоминающих устройств при импульсном ионизирующем воздействии / А.В. Киргизова, А.В. Яненко, А.Ю. Никифоров // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2005. – №3. – С.29–32
Складова документа:
Известия высших учебных заведений. Электроника : научно-технический журнал. №3 / М-во образ. РФ. МИЭТ // Известия высших учебных заведений. Электроника. – М., 2005
Анотація:
Представлены экспериментальные исследования зависимости уровня сохранности информации КМОП КНС БИС статических ОЗУ при воздействии импульсного лазерного излучения в зависимости от кода хранимой информации и напряжения питания. показано, что уровень сохранности информации в БИС ОЗУ зависит от хранимого в матрице памяти информационного кода и наиболее критичным режимом при воздействии может являться режим хранения кода "диагональ"