Исследование динамики преобразования точечных дефектов в фосфоросиликатных световодах по наведенному показателю преломления / Ю.В. Ларионов, А.А. Рыбалтовский, С.Л. Семенов и др. // Квантовая электроника. – 2003. – № 10. – С.919–925
Складова документа:
Квантовая электроника : научный журнал. № 10. Т. 33 / ФИАН . МИФИ и др. // Квантовая электроника. – Москва, 2003
Анотація:
Предложен метод исследования динамики преобразования дефектов в волоконных световодах под действием УФ излучения по дозной зависимости наведенного показателя преломления. С помощью этого метода исследованы процессы преобразования дефектов в фосфоросиликатном волоконном световоде с малыми потерями, насыщенном молекулярным водородом, при экспонировании его на длине волны 193 нм. Выдвинуто предположение о существовании в нем по крайней мере двух типов дефектов, ответственных за наведение показателя преломления.