Вид документа:

Стаття періодики

УДК:

681.325

Зуев И.С. Технологически инвариантная система проектированич топологии стандартных фрагментов МОП БИС / И.С. Зуев, С.Э. Миронов, Н.М. Сафьянников // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2003. – №3. – С.63–70



Складова документа:
Известия высших учебных заведений. Электроника : научно-технический журнал. №3 / М-во образ. РФ. МИЭТ // Известия высших учебных заведений. Электроника. – М., 2003


Анотація:
Разработаны поликоординатный метод и подсистема технологически инвариантного проектирования параметризованной топологии стандартных фрагментов МОП БИС. Метод реализует концепцию проектирования топологии фрагментов МОП БИС на поле виртуальной сетки во множестве систем координат, что позволяет повысить эффективность и качество проектирования, облегчает процесс комплексной параметризации фрагмента и обеспечивает естественную реализацию в графической среде символьного уровня