Влияние параметров импульсных электромагнитных полей на стойкость проводящих микроструктурных элементов интегральных микросхем / С. А. Зуев, В. В. Старостенко, Е. П. Таран, Г. И. Чурюмов // Прикладная радиоэлектроника. – 2005. – №4. – С.447–450.
Складова документа:
Прикладная радиоэлектроника : научно-технический журнал. №4. Т. 4 / Акад. наук прикладн.радиоэлектр. // Прикладная радиоэлектроника. – Х., 2005