В настоящее время существует огромное количество различных приложений, связанных с беспроводной связью, что выдвигает специфические требования к микросхемам обработки смешанных сигналов. Когда эти независимые схемы применяются в конструкции АЦП и ЦАП, значительно возрастает сложность тестирования. Для уменьшения этой сложности традиционно используется BIST-технология, которая предотвращает функциональную зависимость от дорогого тестового оборудования АТЕ. Кроме того, в системе встроенного самотестирования BIST (Built-In-self-Test) анализатор выходного отклика ORA (Output Response Analyzer) является наиболее важным элементом архитектуры сигма-дельта аналогово-цифрового преобразователя (АЦП) в непрерывном времени CT (continuous time). Существует множество алгоритмов ORA для точного определения параметров конструкции, таких как интегральная нелинейность INL (integral non-linearity), дифференциальная нелинейность DNL (differential non-linearity) и отношение сигнал–шум SNR (signal-to-noise ratio). В данной работе используется современный метод CORDIC, который используется в качестве ORA. Для точного имитационного моделирования этого метода использованы программные компоненты Matlab simulink и CADENCE VIRTUOSO EDA. Показано, что метод цифрового вычислителя поворота системы координат CORDIC (Coordinate Rotation Digital Computer) использован для уменьшения сложности конструкции независимых схем. Конструкция АЦП также может быть значительно улучшена с помощью BIST. В данной работе рассмотрено на системном уровне моделирование тестового генератора управляющего воздействия TSG (test stimuli generator) и его моделирование для точного определения сигналов сигма-дельта АЦП высокого разрешения. Успешная реализация протестирована в среде Matlab simulink. Автоматическая проверка аппаратуры внешнего тестирования необходима для испытания интегрированных структур. Реализованный TSG помогает вычислить статистику и параметры передачи, требуемые для получения характеристик СТ сигма-дельта АЦП.