Предлагается технология диагностирования HDL-моделей систем на кристаллах,которая базируется наиспользовании транзакционного графа. Описывается метод диагностирования, направленный на уменьшение времени обнаружения неисправностей и памяти для хранения диагностической матрицы за счет формирования тернарных отношений между тестом, монитором и функциональным компонентом. Разрабатывается модель цифровой системы в виде транзакционного графа и мультидерева таблиц неисправностей, а также тернарные матрицы активации функциональных компонентов выбранного набора мониторов с помощью тестовых последовательностей. Предлагается метод анализа матрицы активации в целях обнаружения неисправных блоков с заданной глубиной и синтеза логических функций для последующего встроенного аппаратного диагностирования неисправностей.