Коленов С. А. Сравнение методов получения фазовых фотоответных изображений при сканировании полупроводниковых гетероструктур перпендикулярно плоскости p–n перехода / С. А. Коленов // Известия высших учебных заведений. Радиоэлектроника. – 2015. – №4. – С. 50–58. – (Известия высших учебных заведений)
Складова документа:
Известия высших учебных заведений. Радиоэлектроника : научно-технический журнал. №4. Т. 58 / НТУ Украины "Киевский политехнич.ин-т" // Известия высших учебных заведений. Радиоэлектроника. – Киев, 2015. – (Известия высших учебных заведений)
Анотація:
Проведен сравнительный анализ фазовых методов исследования фотоэлектрического отклика на примере сканирования полупроводниковой структуры лазерного диода на основе AlGaInP в направлении, перпендикулярном плоскости p–n перехода. Экспериментально выявлено и теоретически обосновано различие в результатах, получаемых с помощью фазового и дифференциально-фазового методов исследования. Показано, что дифференциально-фазовый метод исследования позволяет получать дополнительную информацию об оптических свойствах материалов гетероструктуры, которая отсутствует в результатах, получаемых фазовым методом.