Вид документа:

Складова частина документа

УДК:

621.315.592

Слипченко Н. И. Исследование и моделирование электронных свойств аморфных пленок a-Si:Н / Н. И. Слипченко, В. А. Письменецкий, Н. В. Герасименко // Радиотехника. – 2011. – №Вып. 166. – С. 205–213.



Складова документа:Шифр: 621.396(06) Р15
Радиотехника : всеукр. межведомств. научно- техн. сб. Вып. 166. Информационная безопасность / МОН Украины, Харьк. нац. ун-т радиоэлектроники ; редкол. : В. М. Шокало (гл. ред.) и др. – Харьков : ХНУРЭ, 2011. – 290 с. : ил. – 40.00


Анотація:
Приведены результаты исследований влияния базовых технологических факторов: температуры осаждения пленки, давления газовой смеси и скорости ее прокачки через рабочий объем камеры на концентрацию водорода в осажденных аморфных пленках a-Si:Н. Исследованы зависимости темновой и фотопроводимости, коэффициента оптического поглощения и ширины запрещенной зоны указанных пленок от параметра Сн, а также их температурные характеристики. Для аналитического описания исследованных зависимостей предложены аппроксимационные модели.