Шифр: 621.38(06) Э45
Электронная компонентная база. Состояние и перспективы развития : материалы 2 Междунар. науч. конф.: сб. науч. тр. / МОН Украины, ХНУРЭ, АН ПРЭ, ЗАО НПК "Наука", НТО РЭС Украины, НТО РЭС им. А. С. Попова РФ. – Харьков , Кацивели : ХНУРЭ, 2009. – 292 с. – 25,00
Электронная компонентная база. Состояние и перспективы развития : материалы 2 Междунар. науч. конф.: сб. науч. тр. / МОН Украины, ХНУРЭ, АН ПРЭ, ЗАО НПК "Наука", НТО РЭС Украины, НТО РЭС им. А. С. Попова РФ. – Харьков , Кацивели : ХНУРЭ, 2009. – 292 с. – 25,00
- Електронна версія (rar / 14 Mb)
- Замовити
Статистика використання: Завантажень: 3 Видач: 0
Де отримати


Місце видачі: | Кількість: | В наявності: |
Абонемент загальний к. 358 | 2 | 2 |
Тема:
- УДК
- 621.38 Електроніка. Мікроелектроніка Ключові слова
- інтегральні мікросхеми, ІМС, интегральные микросхемы, ИМС, integrierte Mikroschaltungen
- напівпровідникові прилади, полупроводниковые приборы, semiconductor devices
- мікроелектроніка, микроэлектроника, microelectronics
- лазерна техніка, лазерная техника
- електронні системи, ЕС, электронные системы, ЭС
- електромагнітне поле, электромагнитное поле, electromagnetic field
- наноструктури, наноструктуры, nanostructures
- фотометрія, фотометрия, Photometrie, photometry
- монокристали, монокристаллы
- квантово-розмірні структури, квантово-размерные структуры
- метало-діелектричні структури, МДС, металло-диэлектрические структуры
- мікрохвильова мікроскопія, микроволновая микроскопия
- мікроелектромеханічні системи, МЕМС, микроэлектромеханические системы, МЭМС
- електронна компонентна база, ЕКБ, электронная компонентная база, ЭКБ