К18
Камінська М. О. Системні моделі аналізу тестопридатності при проектуванні цифрових структур на кристалах : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.05 "Комп'ютерні системи і компоненти" / Камінська Марина Олександрівна ; Харків. нац. ун-т радіоелектроніки. – Харків, 2008. – 20 с.
Камінська М. О. Системні моделі аналізу тестопридатності при проектуванні цифрових структур на кристалах : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.05 "Комп'ютерні системи і компоненти" / Камінська Марина Олександрівна ; Харків. нац. ун-т радіоелектроніки. – Харків, 2008. – 20 с.
Статистика використання: Видач: 0
Тема:
- УДК
- 519.713 Автомати
- 681.326 Пристрої для управління. Пристрої контролю та перевірки. Пристрої профілактичної перевірки
- 658.512.011.56 Автоматизація проектування виробничих процесів Ключові слова
- моделювання, моделирование, modeling, simulation
- верифікація, верификация
- тестопридатність, тестопригодность
- цифрові системи на кристалах, цифровые системы на кристаллах, Systems on Chip- SoC