Вид документа:

Дисертації

УДК:

658.512.011: 681.326:519.713
К18
Каминская М. А. Системные модели анализа тестопригодности при проектировании цифровых структур на кристаллах : дис. ... канд. техн. наук : 05.13.05 "Компьютерные системы и компоненты" / Каминская Марина Александровна ; МОН Украины, Харьк. нац. ун-т радиоэлектроники. – Харків, 2009. – 187 с. – Библиогр.: с. 168–187.


Статистика використання: Видач: 0

Анотація:
Целью диссертационного исследования является разработка системных моделей и методов анализа тестопригодности и дальнейшей модификации проектов, представленных системным уровнем (программные продукты), регистровым и вентильным уровнем (цифровые устройства, в частности ПЛИС) для существенного уменьшения (на 20 %) времени синтеза и моделирования тестов и сокращение объема диагностической информации при одновременном улучшении качества тестов путем повышения тестопригодности цифровых изделий и программных продуктов.