К18
Каминская М. А. Системные модели анализа тестопригодности при проектировании цифровых структур на кристаллах : дис. ... канд. техн. наук : 05.13.05 "Компьютерные системы и компоненты" / Каминская Марина Александровна ; МОН Украины, Харьк. нац. ун-т радиоэлектроники. – Харків, 2009. – 187 с. – Библиогр.: с. 168–187.
Каминская М. А. Системные модели анализа тестопригодности при проектировании цифровых структур на кристаллах : дис. ... канд. техн. наук : 05.13.05 "Компьютерные системы и компоненты" / Каминская Марина Александровна ; МОН Украины, Харьк. нац. ун-т радиоэлектроники. – Харків, 2009. – 187 с. – Библиогр.: с. 168–187.
Статистика використання: Видач: 0
Анотація:
Целью диссертационного исследования является разработка системных моделей и методов анализа тестопригодности и дальнейшей модификации проектов, представленных системным уровнем (программные продукты), регистровым и вентильным уровнем (цифровые устройства, в частности ПЛИС) для существенного уменьшения (на 20 %) времени синтеза и моделирования тестов и сокращение объема диагностической информации при одновременном улучшении качества тестов путем повышения тестопригодности цифровых изделий и программных продуктов.
Тема:
- УДК
- 519.713 Автомати
- 681.326 Пристрої для управління. Пристрої контролю та перевірки. Пристрої профілактичної перевірки
- 658.512.011.56 Автоматизація проектування виробничих процесів Ключові слова латиницею
- IEEE 1149.1 Ключові слова
- програмні продукти, программные продукты, software
- цифрові пристрої, ЦП, цифровые устройства, ЦУ
- верифікація, верификация
- тестопридатність, тестопригодность
- цифрові системи на кристалах, цифровые системы на кристаллах, Systems on Chip- SoC
- програмовані логічні інтегральні схеми, ПЛІС, программируемые логические интегралные схемы, ПЛИС
- граничне сканування, граничное сканирование