Шифр: 621.317 Б28
Батавин В. В. Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур / В. В. Батавин, Ю. А. Концевой, Ю. В. Федорович. – М. : Радио и связь, 1985. – 264 с. : с ил. – (Измерения в электронике). – 1,10
Батавин В. В. Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур / В. В. Батавин, Ю. А. Концевой, Ю. В. Федорович. – М. : Радио и связь, 1985. – 264 с. : с ил. – (Измерения в электронике). – 1,10
Статистика використання: Видач: 4
Де отримати


Місце видачі: | Кількість: | В наявності: |
Абонемент загальний к. 358 | 2 | 2 |
Тема:
- УДК
- 621.317 Електричні вимірювання ( методи та прилади)
- 621.315.592 Електронні напівпровідники Ключові слова
- електричні вимірювання, электрические измерения, electrical measurements
- напівпровідникові матеріали та вироби, полупроводниковые материалы и изделия
- напівпровідникові структури, НПС, полупроводниковые структуры, ППС