Дисертація присвячена розробці моделей та методів розв'язання задач сегментації границь частково контрастних зображень нерегулярного вигляду на основі адаптивних масок.
Запропонована система моделей, яка дозволяє враховувати яскравісно-контрастні, топологічні та геометричні параметри зображень. Уведені показники ефективності сегментації та методи їх оцінювання. На цій основі загальна задача сегментації границь зображень зведена до основної задачі сегментації граничних вузлів і побудови компонент границі, а також системи допоміжних задач.
Для розв'язання основної задачі запропонована система адаптивних масок і низка критеріїв, що забезпечують адекватність, повноту і стійкість сегментації. Для масок і критеріїв розроблена система еталонів і методів настроювання їх параметрів на рівень контрастності та зашумлення. Запропонована схема розв'язання загальної задачі. Для розроблених методів отримані оцінки трудомісткості.
Запропоновані методи реалізовані у трьох програмних комплексах для сегментації та оцінювання геометричних параметрів сонячних плям, насіння та ембріонів.