Шифр: 621.382 Е91
Ефимов И. Е. Надежность твердых интегральных схем / И. Е. Ефимов, И. Г. Кальман, В. И. Мартынов. – изд. 2-е. – М. : Изд-во Стандартов, 1979. – 217 с. : ил. – 0,95
Ефимов И. Е. Надежность твердых интегральных схем / И. Е. Ефимов, И. Г. Кальман, В. И. Мартынов. – изд. 2-е. – М. : Изд-во Стандартов, 1979. – 217 с. : ил. – 0,95
Статистика використання: Видач: 0
Де отримати
| Місце видачі: | Кількість: | В наявності: |
| Абонемент загальний к. 358 | 1 | 1 |
Тема:
- УДК
- 621.382 Електронні пристрої із використанням властивостей твердого тіла. Напівпровідникові елементи Ключові слова
- великі інтегральні схеми, ВІС, большие интегральные схемы, БИС
- надійність, надежность, safety
- діелектричні інтегральні схеми,диэлектрические интегральные схемы
- напівпровідникові схеми, полупроводниковые схемы, semiconductor circuits
- ультравеликі інтегральні схеми, ультрабольшие интегральные схемы
- надійність техніки, надежность техники
- інтегральні схеми НВЧ, интегральные схемы СВЧ
- гібридні інтегральні схеми, гибридные интегральные схемы
- метрологічний контроль і нагляд, МКН, метрологический контроль и наблюдение