Шифр: 543.4 Ш 44
Шелпакова И.Р. Послойный анализ материалов электронной техники / И.Р. Шелпакова, И.Г. Юделевич, Б.М. Аюпов ; АН СССР ; Сиб. отд-ние ; Ин-т неорган. химии. – Новосибирск : Наука, 1984. – 181 с. – 2,10
Шелпакова И.Р. Послойный анализ материалов электронной техники / И.Р. Шелпакова, И.Г. Юделевич, Б.М. Аюпов ; АН СССР ; Сиб. отд-ние ; Ин-т неорган. химии. – Новосибирск : Наука, 1984. – 181 с. – 2,10
Статистика використання: Видач: 0
Де отримати
| Місце видачі: | Кількість: | В наявності: |
| Абонемент загальний к. 358 | 1 | 1 |
Тема:
- УДК
- 543.4 Прості візуальні методи Ключові слова
- електронні прилади, электронные приборы, electronic devices
- фізико-хімічний аналіз, физико-химический анализ
- напівпровідники, полупроводники, semiconductors, Halbleiter
- електронна техніка, электронная техника
- матеріали електронної техніки, материалы электронной техники
- хімічний аналіз, химический анализ