Шифр: 004(06) P 93
Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium ( EWDTWS'08 ) : 9 - 12 oct., 2008, Lviv / Kharkov National University of RadioElectronics. – [ Kharkov ] : KNURE, 2008. – 444 p. : il. – 50.00
Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium ( EWDTWS'08 ) : 9 - 12 oct., 2008, Lviv / Kharkov National University of RadioElectronics. – [ Kharkov ] : KNURE, 2008. – 444 p. : il. – 50.00
- Електронна версія (rar / 41 Mb)
- Замовити
Статистика використання: Завантажень: 3 Видач: 0
Де отримати
| Місце видачі: | Кількість: | В наявності: |
| Абонемент інозем.літ-ри к. 438 | 2 | 2 |
Тема:
- УДК
- 004 Комп'ютерна наука і технологія. Застосування комп'ютера Ключові слова латиницею
- CMOS
- System-on-Chips, SoCs
- finite-state-machine, FSM
- FPGAs
- IEEE P1500
- Automatic Test Pattern Generation, ATPGs
- Multi-core Processors
- Compositional Microprogram Control Units, CMCUs
- Transaction Level Modeling, TLM
- Quantum-dot celluar automata, QCA
- Pattern Sensitive Faults, PSF Ключові слова
- розробка програмного забезпечення, разработка программного обеспечения, software engineering, software development
- мікропроцесори, микропроцессоры, microprocessors, Mikrorechner, microprocesseurs
- логічні системи,логические системы, logical systems
- паралельні комп'ютери, параллельные компьютеры, parallel computers
- проєктування цифрових систем, проектирование цифровых систем, digital systems design
- тестування програмного забезпечення, тестирование программного обеспечения
- верифікація програм, верификация программ