Шифр: 621.382 Н17
Надежность полупроводниковых устройств : пер. с англ. / под ред. Маслова А. А. – М. : Машиностроение, 1963. – 427 с. – 1,58
Надежность полупроводниковых устройств : пер. с англ. / под ред. Маслова А. А. – М. : Машиностроение, 1963. – 427 с. – 1,58
Статистика використання: Видач: 0
Де отримати


Місце видачі: | Кількість: | В наявності: |
Абонемент загальний к. 358 | 2 | 2 |
Тема:
- УДК
- 621.382 Електронні пристрої із використанням властивостей твердого тіла. Напівпровідникові елементи Ключові слова
- транзистори, транзисторы, transistors
- надійність, надежность, safety
- приймально-підсилюючі пристрої, приемно-усилительные устройства
- напівпровідникові приймально-підсилюючі пристрої, полупроводниковые приемно-усилительные устройства
- кремнієві планарні транзистори, кремниевые планарные транзисторы
- підсилювальні пристрої, усилительные устройства