Шифр: 621.382.1 Н17
Надежность полупроводниковых радиоустройств летательных аппаратов. Методы расчета надежности по постепенным, временным и перемеживающимся отказам / А. В. Фомин, Ю. Г. Обичкин, Е. А. Молостов и др. – М. : Машиностроение, 1968. – 268 с. – 1,34
Надежность полупроводниковых радиоустройств летательных аппаратов. Методы расчета надежности по постепенным, временным и перемеживающимся отказам / А. В. Фомин, Ю. Г. Обичкин, Е. А. Молостов и др. – М. : Машиностроение, 1968. – 268 с. – 1,34
Статистика використання: Видач: 0
Де отримати


Місце видачі: | Кількість: | В наявності: |
Абонемент загальний к. 358 | 3 | 3 |
Тема:
- УДК
- 621.382 Електронні пристрої із використанням властивостей твердого тіла. Напівпровідникові елементи Ключові слова
- надійність, надежность, safety
- літальні апарати, летательные аппараты
- приймально-підсилюючі пристрої, приемно-усилительные устройства
- напівпровідникові приймально-підсилюючі пристрої, полупроводниковые приемно-усилительные устройства
- космічні літальні апарати, КЛА, космические летательные аппараты
- підсилювальні пристрої, усилительные устройства
- метрологічна надійність, метрологическая надежность
- допуски ( техн.)