Шифр: 621.382 М54
Методы измерения параметров полупроводниковых приборов : пер.с англ. / под ред. Иглицына М. И. – Москва : Оборонгиз, 1961. – 264 с. : ил. – 1,32
Методы измерения параметров полупроводниковых приборов : пер.с англ. / под ред. Иглицына М. И. – Москва : Оборонгиз, 1961. – 264 с. : ил. – 1,32
Статистика використання: Видач: 0
Де отримати
| Місце видачі: | Кількість: | В наявності: |
| Абонемент загальний к. 358 | 5 | 5 |
Тема:
- УДК
- 621.382 Електронні пристрої із використанням властивостей твердого тіла. Напівпровідникові елементи Ключові слова
- електронні прилади, электронные приборы, electronic devices
- напівпровідникові прилади, полупроводниковые приборы, semiconductor devices
- тріоди, триоды, triodes
- напівпровідникові прилади НВЧ, полупроводниковые приборы СВЧ
- надвисокочастотні напівпровідникові прилади, СВЧ- полупроводниковые приборы, microwave semiconductor devices
- силові напівпровідникові прилади, СНВ, силовые полупроводниковые приборы, СПП