Шифр: 621.382(06) Ф50
Физико-химические основы надежности микроэлектронных структур : межвуз. сб. науч. тр. / Воронеж. политехн. ин-т. – Воронеж : Изд-во Воронежского политехн. ин-та, 1987. – 92 с. – 0,70
Физико-химические основы надежности микроэлектронных структур : межвуз. сб. науч. тр. / Воронеж. политехн. ин-т. – Воронеж : Изд-во Воронежского политехн. ин-та, 1987. – 92 с. – 0,70
Статистика використання: Видач: 0
Де отримати
| Місце видачі: | Кількість: | В наявності: |
| Абонемент загальний к. 358 | 1 | 1 |
Тема:
- УДК
- 621.382 Електронні пристрої із використанням властивостей твердого тіла. Напівпровідникові елементи Ключові слова
- інтегральні схеми, ІС, интегральные схемы, ИС, integrated circuits
- електрохімічні процеси, электрохимические процессы, еlektochemische Prozesse
- напівпровідникові матеріали та вироби, полупроводниковые материалы и изделия
- інтегральні схеми НВЧ, интегральные схемы СВЧ