Шифр: 539.2 П 85
Прямые методы исследования дефектов кристаллах : пер. с англ. / под ред. А.М. Елистратова. – М. : Мир, 1965. – 351 с. : ил. – 1,70
Прямые методы исследования дефектов кристаллах : пер. с англ. / под ред. А.М. Елистратова. – М. : Мир, 1965. – 351 с. : ил. – 1,70
Статистика використання: Видач: 0
Де отримати
| Місце видачі: | Кількість: | В наявності: |
| Абонемент загальний к. 358 | 1 | 1 |