Шифр: 539.2 М54
Методы анализа поверхностей / под ред. А. Зандерны. – М. : Мир, 1979. – 582 с. : ил. – 4,40
Методы анализа поверхностей / под ред. А. Зандерны. – М. : Мир, 1979. – 582 с. : ил. – 4,40
- Електронна версія (djvu / 5,65 Mb)
- Замовити
Статистика використання: Завантажень: 0 Видач: 0
Де отримати


Місце видачі: | Кількість: | В наявності: |
Абонемент загальний к. 358 | 2 | 2 |
Тема:
- УДК
- 539 Фізична природа матерії
- 539.2 Властивості та структура молекулярних систем Ключові слова
- аналіз, анализ, analysis
- спектроскопія, спектроскопия, spectroscopy, Spektroskopie, spectroscopie
- шорсткі поверхні, шероховатые поверхности
- комбінаційне розсіювання, комбинационное рассеяние
- поверхневі явища в твердих тілах, поверхностные явления в твердых телах
- методи аналізу, методы анализа, methods of analysis
- поверхні ( техн.), поверхности ( техн.)
- резерфордівське зворотнє розсіяння, РЗР, резерфордовское обратное рассеяние, РОР
- адсорбція, адсорбция
- фізика поверхонь, физика поверхностей