Шифр: 537 Р24
Гоулдстейн Дж. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : в 2-х кн. : пер. с англ. кн. 2 / Дж. Гоулдстейн, Д. Ньюбери, П. Эчлин ; под ред. В.И. Петрова. – М. : Мир, 1984. – 351 с. : ил. – 3,10
Гоулдстейн Дж. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : в 2-х кн. : пер. с англ. кн. 2 / Дж. Гоулдстейн, Д. Ньюбери, П. Эчлин ; под ред. В.И. Петрова. – М. : Мир, 1984. – 351 с. : ил. – 3,10
Статистика використання: Видач: 0
Де отримати
| Місце видачі: | Кількість: | В наявності: |
| Абонемент загальний к. 358 | 3 | 3 |
Тема:
- Ключові слова
- мікроаналіз, микроанализ
- електронна мікроскопія, электронная микроскопия
- електронні явища, электронные явления
- випромінювання рентгенівське, излучение рентгеновское, Rontgen-Strahlung, X-Rays
- рентгеноспектрометрія, рентгеноспектрометрия, Rontgenspektrometrie
- рентгенівські спектри, рентгеновские спектры
- рентгеноструктурний аналіз, рентгеноструктурный анализ
- рентгенівське випромінювання, рентгеновское излучение, X-rays УДК
- 537.533.3 Електронна оптика