Дисертацію присвячено задачам розробки методів моделювання і тестування цифрових пристроїв. Запропоновано ефективні методи моделювання константних і функціональних пошкоджень, в яких для підвищення адекватності використовується універсальна 16-значна логіка, а для підвищення швидкості - паралельне за пошкодженнями моделювання. Для стратегії паралельного моделювання, суміщеного із одиночним розповсюдженням пошкоджень, запропоновано нові методи підвищення швидкості: зменшення числа подій за рахунок статичного та динамічного сортування, новий структурний функціональний спосіб внесення дії пошкоджень. Розроблено алгоритм побудови тестових послідовностей, який базується на генетичному алгоритмі, що дозволяє будувати тести прийнятної якості для великих схем. Запропоновані алгоритми реалізовані програмно і впроваджені в автоматизовану систему моделювання і діагностики АСМІД-Е, яка використовувалася при проектуванні реальних цифрових пристроїв.