Вид документа:

Книга

УДК:

537.311.322
Шифр: 537 Л22
Ланно М. Точечные дефекты в полупроводниках. Теория : пер. с англ. / М. Ланно, Ж. Бургуэн. – М. : Мир, 1984. – 264 с. : ил. – 2,30


Статистика використання: Видач: 0