В учебном пособии рассмотрены методы определения основных параметров полупроводниковых материалов (удельно-го сопротивления, концентрации и подвижности носителей заряда, термических, термоэлектрических и рекомбинационных параметров, а также параметров, характеризующих поверхность полупроводника). Изложены физические принципы методик исследования полупроводников, приведены схемы экспериментальных установок, проанализированы условия применимости различных методик
и основные источники их погрешностей.
Особое внимание уделено проблемам использования ЭВМ в исследованиях полупроводников. Для студентов физических и радиофизических специальностей вузов.