Шифр: 537 Б91
Бургуэн Ж. Точечные дефекты в полупроводниках : эксперим. аспекты : пер. с англ. / Ж. Бургуэн, М. Ланно ; под ред. В.Л. Гуревича. – М. : Мир, 1985. – 304 с. : ил. – 2,70
Бургуэн Ж. Точечные дефекты в полупроводниках : эксперим. аспекты : пер. с англ. / Ж. Бургуэн, М. Ланно ; под ред. В.Л. Гуревича. – М. : Мир, 1985. – 304 с. : ил. – 2,70
Статистика використання: Видач: 0
Де отримати
| Місце видачі: | Кількість: | В наявності: |
| Абонемент загальний к. 358 | 3 | 3 |