Шифр: 533.33 Р19
Раков А. В. Спектрофотометрия тонкопленочных полупроводниковых структур / А. В. Раков. – М. : Советское радио, 1975. – 176 с. : табл., рис. – 0,55
Раков А. В. Спектрофотометрия тонкопленочных полупроводниковых структур / А. В. Раков. – М. : Советское радио, 1975. – 176 с. : табл., рис. – 0,55
Статистика використання: Видач: 1
Де отримати
| Місце видачі: | Кількість: | В наявності: |
| Абонемент загальний к. 358 | 6 | 6 |