Вид документа:

Стаття періодики

УДК:

621.382.323

Модель ПТШ субмикронных размеров на кремнии. Часть 2. Результаты моделирования / С.А. Зуев, В.В. Старостенко, В.Ю. Терещенко и др. // Радиоэлектроника и информатика. – 2004. – №4. – С.31–33.


Анотація:
Описываются результаты расчета входных и выходных статистических характеристик полупроводниковых приборов на основе Si