Хаханова И.В. Топологический метод анализа дефектов / И.В. Хаханова, И.Н. Чугуров, А.Н. Парфентий // Радиоэлектроника и информатика. – 2003. – №4. – С.69–74.
Анотація:
Предлагается быстродействующий метод моделирования неисправностей, использующий предварительное разбиение модели цифрового устройства на линии сходящихся разветвлений и древовидные структуры