В диссертации разработан эвристический метод и алгоритм поиска неисправностей, позволяющий выбирать оптимальную ( по времени поиска) последовательность проверок блоков. Сформулированы условия для выбора оптимальной стратегии поиска неисправностей. Предложено и разработано ГЗУ со страничной организацией, использование которого в составе комплеаса аппаратуры позволяет хранить и генерировать заданное множество испытательных тестов и поводить контроль МОП-ОЗУ в режиме соответствующем его быстродействию. Предложен новый способ аппаратной генерации тестов для контроля МОП- ОЗУ, позволяющий в 3-4 раза сократить время тестирования. Разработан комплекс аппаратуры, изготовленный в виде прибора, что обеспечивает проведение функционального контроля МОП-ОЗУ в различных условиях испытаний, в том числе и полевых. Опытная эксплуатация разработанной аппаратуры показала ее эффективность при проведении контроля полупроводниковых ОЗУ, построенных на различной элементной базе и имеющих различные схемные организации.