А56
Аль М. Р. Методы и алгоритмы оценки тестопригодности цифровых устройств на этапе проектирования : дис. ... канд. техн. наук : 05.13.12 "Системы автоматизации проектных работ" / Аль Матарнех Рами ; Харьк. гос. техн. ун-т радиоэлектроники. – Харьков, 1999. – 192 с. : ил. – Библиогр.: с. 140–153.
Аль М. Р. Методы и алгоритмы оценки тестопригодности цифровых устройств на этапе проектирования : дис. ... канд. техн. наук : 05.13.12 "Системы автоматизации проектных работ" / Аль Матарнех Рами ; Харьк. гос. техн. ун-т радиоэлектроники. – Харьков, 1999. – 192 с. : ил. – Библиогр.: с. 140–153.
Статистика використання: Видач: 0
Анотація:
В работе получают дальнейшее развитие методы оценки тестопригодности средств вычислительной техники. Предложены алгоритмы, повышающие качество и эффективность оценок тестопригодности с использовнием семантики структуры. Предлагается формирование САПР диагностического обеспечения на основе экспертной системы фреймового типа с элементами нечеткой логики.
Тема:
- УДК
- 519.713 Автомати
- 681.32 Цифрові (або переважно цифрові) системи, машини, обладнання Ключові слова
- тести, тесты, tests
- семантика, semantics
- матриці, матрицы, matrices
- графи, графы, graphs
- комп'ютерні системи, компьютерные системы, computer systems, systemes d'ordinateur
- тестопридатність, тестопригодность
- нечітка логіка, НЛ, нечеткая логика
- логічні схеми, логические схемы, logic circuits, circuits logiques