Цель диссертационной работы состоит в разработке основных положений и общего подхода к построению D-тестов диагностирования для проверки цифровых схем как комбинационного, так и последовательного типа. В разработке способа задания D-покрытий для последовательностных схем, имеющих в своем составе как триггеры, так и цепи обратных связей. В применении аппарата классического D-алгоритма Рота при разработке метода построения D-тестов для цифровых схем широкого класса, в том числе и реализованных на интегральных микросхемах различной степени интеграции.