Робота присвячена розробці моделей, методів і алгоритмів тестопригодного проектування дискретних пристроїв, у яких процедури перевірки справності здійснюються убудованими засобами діагностування.
Запропоновано нові методи побудови діагностичних експериментів, засновані на використанні інформації функціонального і вентильного рівнів проектування з метою мінімізації витрат на діагностичне забезпечення. Розроблено метод і алгоритми тестопригодного проектування. що передбачають виключення функціональної і схемної надлишковості на етапі кодування станів автоматних моделей і синтезу комбінаційної частини пристрою. Запропоновано новий метод аналізу комбінаційної надлишковості, заснований на використанні модифікованої еквівалентної форми булевої функції. Розроблено процедуру аналізу і запропоновано нову модель багатовиходової комбінаційної схеми у вигляді графа основних суттєвих вершин з розгалуженнями, визанчені необхідні і достатні умови синдромного тестування схем при організації псевдовичерпного тестування. Запропоновно нову універсальну модель синдромно-сигнатурного аналізатора. Розроблено нові ефективні методи логічного проектування синдромно тестуємих схем на програмувальних матрицях логіки, синтезу синхронних і асинхронних пристороїв на основі використання зворотних таблиць переходів їхніх автоматних моделей.