А56
Аль М. Р. Методи і алгоритми оцінки тестопридатності цифрових пристроїв на етапі проектування : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.12 "Системи автоматизації проектувальних робіт" / Аль Матарнех Рамі ; Харків. держ. техн. ун-т радіоелектроніки. – Харків, 2000. – 16 с.
Аль М. Р. Методи і алгоритми оцінки тестопридатності цифрових пристроїв на етапі проектування : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.12 "Системи автоматизації проектувальних робіт" / Аль Матарнех Рамі ; Харків. держ. техн. ун-т радіоелектроніки. – Харків, 2000. – 16 с.
Статистика використання: Видач: 0
Анотація:
У роботі набувають подальшого розвитку методи оцінки тестопридатності засобів обчислювальної техніки. Розроблеені методи та алгоритми, що підвищують якість та ефективність оцінок тестопридатності з використанням семантики структури цифрових пристроїв. Пропонується формування САПР діагностичного забезпечення на основі експертної системи фреймового типу з елементами нечіткої логіки.
Тема:
- УДК
- 519.713 Автомати
- 681.32 Цифрові (або переважно цифрові) системи, машини, обладнання Ключові слова
- тести, тесты, tests
- семантика, semantics
- матриці, матрицы, matrices
- графи, графы, graphs
- комп'ютерні системи, компьютерные системы, computer systems, systemes d'ordinateur
- тестопридатність, тестопригодность
- нечітка логіка, НЛ, нечеткая логика
- логічні схеми, логические схемы, logic circuits, circuits logiques