Вид документа:

Книга

УДК:

621.382(07)
Шифр: 621.382(07) Т 38
Технология полупроводниковых приборов и изделий микроэлектроники : В 10 кн.:Учеб.пособие. Кн.10. Контроль качества/Ю.Г.Семенов. – М. : Высшая школа, 1990. – 111с. : ил. – ISBN 5-06-001082-1. – 1,00


Статистика використання: Видач: 0