С47
Сліпченко М. І. Фізичні основи ближньопольовоі НВЧ діагностики матеріалів і середовищ : автореф. дис. ... д-р ф-м. н: 01.04.01- фізика приладів, елементів і систем / Сліпченко Микола Іванович ; Сумський державний університет. – Суми, 2008. – 36 с.
Сліпченко М. І. Фізичні основи ближньопольовоі НВЧ діагностики матеріалів і середовищ : автореф. дис. ... д-р ф-м. н: 01.04.01- фізика приладів, елементів і систем / Сліпченко Микола Іванович ; Сумський державний університет. – Суми, 2008. – 36 с.
Статистика використання: Видач: 0
Анотація:
В дисертації вирішено проблему створення загальної теорії НВЧ ближньопольової діагностики, яка необхідна для подальшого розвітку НВЧ пристроїв й систем для визначення параметрів матеріалів, середовищ і об'єктів природного та штучного походження.
У роботі запропоновано та розвинуто нові аналітико-чисельні методи і підходи дослідження резонаторних вимірювальних перетворювачів, які є перспективними для діагностики напівпровідників і діелектиків.
У роботі запропоновано та розвинуто нові аналітико-чисельні методи і підходи дослідження резонаторних вимірювальних перетворювачів, які є перспективними для діагностики напівпровідників і діелектиків.
Тема:
- УДК
- 681.586 Перетворювачі. Датчики
- 543.275.1 Волога. Вологовміст Ключові слова
- рівняння Максвелла, уравнения Максвелла, Maxwell`s equations
- гігрометри, гигрометры
- надвисокочастотна діагностика, НВЧ-діагностика, сверхвысокочастотная диагностика, СВЧ-диагностика
- надвисокочастотні резонаторні вимірювачі, НВЧ-резонаторные измерители, сверхвысокочастотные резонаторные измерители, СВЧ-резонаторные измерители
- функція Гріна, функция Грина
- рівняння Вольтерра, уравнения Вольтерра
- метод часткових відбиттів, метод частичных отражений
- скануюча мікрохвильова мікроскопія, СММ, сканирующая микроволновая микроскопия, СММ