Вид документа:

Дисертації

УДК:

004.896:658.562.3
Шифр: 004.8 Ш37
Шевченко И. В. Методы, модели и информационные технологии мониторинга и оптимизации процесса выращивания монокристаллов полупроводников : дис. ... д-ра техн. наук : 05.13.06 "Информационные технологии" / Шевченко Игорь Васильевич ; М-во образования и науки Украины, Харьк. нац. ун-т радиоэлектроники. – Харьков, 2015. – 322 с. – Библиогр.: с. 282– 306.


Статистика використання: Видач: 0

Анотація:
Предложена модель информационно-аналитической системы управления качеством и модель подсистемы принятия оперативных решений для коррекции процесса выращивания монокристаллов. Развит метод построения прикладной информационной технологии диагностики состояния сложного производственного процесса. Внедрена нейросетевая модель для косвенного мониторинга температурного поля в расплаве и разработан нечеткий обучаемый клеточный автомат. Исследован метод настройки параметров нечеткого клеточного автомата, основанный на поиске оптимальных значений коэффициентов во взвешенной t-конорме Лукасевича. Разработана информационная технология автоматизированного решения задачи оптимизации конфигурации теплового экрана ростовой установки для выращивания монокристаллов методом Чохральского. Усовершенствована нечеткая модель распознавания ситуаций, введено оценивание степени критичности ситуации, разработана база знаний для диагностики неблагоприятных ситуаций. Внедрение подсистем ''Мониторинг", "Советчик" и "Экран" на ЧП "Галар" (г. Светловодск) позволило получить годовой экономический эффект 85,4 тыс. грн.