Слипченко Н. И. Исследование и моделирование электронных свойств аморфных пленок a-Si:Н / Н. И. Слипченко, В. А. Письменецкий, Н. В. Герасименко // Радиотехника. – 2011. – №Вып. 166. – С. 205–213.
Складова документа:Шифр: 621.396(06) Р15
Радиотехника : всеукр. межведомств. научно- техн. сб. Вып. 166. Информационная безопасность / МОН Украины, Харьк. нац. ун-т радиоэлектроники ; редкол. : В. М. Шокало (гл. ред.) и др. – Харьков : ХНУРЭ, 2011. – 290 с. : ил. – 40.00
Анотація:
Приведены результаты исследований влияния базовых технологических факторов: температуры осаждения пленки, давления газовой смеси и скорости ее прокачки через рабочий объем камеры на концентрацию водорода в осажденных аморфных пленках a-Si:Н. Исследованы зависимости темновой и фотопроводимости, коэффициента оптического поглощения и ширины запрещенной зоны указанных пленок от параметра Сн, а также их температурные характеристики. Для аналитического описания исследованных зависимостей предложены аппроксимационные модели.
Тема:
- УДК
- 621.315.592 Електронні напівпровідники Ключові слова
- властивості, свойства
- аморфні тонкоплівкові структури, аморфные тонкопленочные структуры ХНУРЕ. Праці співробітників
- Письменецький Віктор Олександрович, Письменецкий Виктор Александрович
- Сліпченко Микола Іванович, Слипченко Микола Иванович, Slipchenko M. I.
- Герасименко Микола Вікторович, Герасименко Николай Викторович