С30
Семеренко М. М. Методы и устройства контроля качественных характеристик полупроводниковых приботов : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.13 "Приборы и методы контроля веществ, материалов и изделий" / Семеренко Михаил Михайлович ; Винницкий политехн. ин-т. – Винница, 1988. – 23 с.
Семеренко М. М. Методы и устройства контроля качественных характеристик полупроводниковых приботов : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.13 "Приборы и методы контроля веществ, материалов и изделий" / Семеренко Михаил Михайлович ; Винницкий политехн. ин-т. – Винница, 1988. – 23 с.
Статистика використання: Видач: 0
Анотація:
Целью работы является исследование потенциально неустойчивых полупроводниковых приборов, создание методов и алгоритмов для определения их качественных характеристик по результатам измерений в СВЧ диапазоне и разработка измерительной установки для более эффективного контроля качества этих приборов.