Дисертація присвячена удосконаленню моніторингу виробничих дефектів, що забезпечує завбачення параметричних відмовлень,зміну і коректування технологічних процесів виробництва приладів, гібридних і інтегральних структур функціональної електроніки, складання, монтажу і герметизації інтегральних мікросхем і приладів ЕТ.
Запроповано використовувати уявлення про відображувану область знань параметрів ЕТ, як про об'єкт, у якому знаходяться частина непрореагованої речевини, що змінюється з часом і ці зміни відбуваються у відповідності закономірностям протікання реальних реакцій.