ТАВР
Іконнікова Н. М. Розробка програмного забезпечення системи моніторингу виробничих дефектів РЕАЗ : дипломний проект, пояснювальна записка / Н. М. Іконнікова ; кер. роботи ас. Сизько В.А. ; ХНУРЕ, Кафедра Технології та автоматизації виробництва. – Харків, 2013. – 140 с. : CD
Іконнікова Н. М. Розробка програмного забезпечення системи моніторингу виробничих дефектів РЕАЗ : дипломний проект, пояснювальна записка / Н. М. Іконнікова ; кер. роботи ас. Сизько В.А. ; ХНУРЕ, Кафедра Технології та автоматизації виробництва. – Харків, 2013. – 140 с. : CD
Статистика використання: Видач: 0
Анотація:
Работа посвящена совершенствованию мониторинга производственных дефектов, обеспечивающего предсказание параметрических отказов, изменение и корректировку технологических процессов производства приборов, гибридных и интегральных структур функциональной электроники, сборки, монтажа и герметизации интегральных микросхем и приборов ЭТ.
Проведен анализ существующих подходов к проблеме производственных дефектов ЭТ и методов их обнаружения. Достоверность такого анализа информации в ряде случаев не вполне отвечает требованиям при решении практических задач обеспечения качества ЭТ. В результате анализа существующих подходов к проблеме производственных дефектов ЭТ, методов их обнаружения и предсказания за основу моделирования и отображения процессов взяты принципы распознавания с участием ЛПР, когда решение принимается на основе известного наблюдаемого механизма процессов.
Предложен метод реализации гарантированного прогноза изменения параметров ЭТ на основе решения уравнения эволюции с использованием алгоритмов оптимальной фильтрации, которые применяются при решении задач оценивания и предсказания. Предложен алгоритм, определяющий динамику отображаемой среды, включающий правило, которое дает воз-можность принимать гарантированное решения о техническом состоянии ЭТ.
МОНИТОРИНГ, ПРОИЗВОДСТВЕННЫЕ ПРОЦЕССЫ, ОТКАЗЫ, ПРОГНОЗ, ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ ПРОЦЕСС.
Робота присвячена удосконаленню моніторингу виробничих дефектів, що забезпечує завбачення параметричних відмовлень, зміну і коректування технологічних процесів виробництва приладів, гібридних і інтегральних структур функціональної електроніки, складання, монтажу і герметизації інтегральних мікросхем і приладів ЕТ.
Запропоновано використовувати уявлення про відображувану область значень параметрів ЕТ, як про об'єкт, у якому знаходиться частина непрореагованої речовини, що змінюється з часом і ці зміни відбуваються у відповідності закономірностям протікання реальних реакцій.
Запропоновано рівняння еволюції технічного стану ЕТ, яке основане на детермінованій кінетичній моделі процесів, що відбуваються в багато-компонентному середовищі, і модель спостереження, що враховує помилки, викликані нестабільністю зовнішніх впливів, і похибок вимірювань.
МОНІТОРИНГ, ВИРОБНИЧІ ПРОЦЕСИ, ВІДМОВИ, ПРОГНОЗ, ТЕХНОЛОГІЧНИЙ ПРОЦЕС.
Проведен анализ существующих подходов к проблеме производственных дефектов ЭТ и методов их обнаружения. Достоверность такого анализа информации в ряде случаев не вполне отвечает требованиям при решении практических задач обеспечения качества ЭТ. В результате анализа существующих подходов к проблеме производственных дефектов ЭТ, методов их обнаружения и предсказания за основу моделирования и отображения процессов взяты принципы распознавания с участием ЛПР, когда решение принимается на основе известного наблюдаемого механизма процессов.
Предложен метод реализации гарантированного прогноза изменения параметров ЭТ на основе решения уравнения эволюции с использованием алгоритмов оптимальной фильтрации, которые применяются при решении задач оценивания и предсказания. Предложен алгоритм, определяющий динамику отображаемой среды, включающий правило, которое дает воз-можность принимать гарантированное решения о техническом состоянии ЭТ.
МОНИТОРИНГ, ПРОИЗВОДСТВЕННЫЕ ПРОЦЕССЫ, ОТКАЗЫ, ПРОГНОЗ, ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ ПРОЦЕСС.
Робота присвячена удосконаленню моніторингу виробничих дефектів, що забезпечує завбачення параметричних відмовлень, зміну і коректування технологічних процесів виробництва приладів, гібридних і інтегральних структур функціональної електроніки, складання, монтажу і герметизації інтегральних мікросхем і приладів ЕТ.
Запропоновано використовувати уявлення про відображувану область значень параметрів ЕТ, як про об'єкт, у якому знаходиться частина непрореагованої речовини, що змінюється з часом і ці зміни відбуваються у відповідності закономірностям протікання реальних реакцій.
Запропоновано рівняння еволюції технічного стану ЕТ, яке основане на детермінованій кінетичній моделі процесів, що відбуваються в багато-компонентному середовищі, і модель спостереження, що враховує помилки, викликані нестабільністю зовнішніх впливів, і похибок вимірювань.
МОНІТОРИНГ, ВИРОБНИЧІ ПРОЦЕСИ, ВІДМОВИ, ПРОГНОЗ, ТЕХНОЛОГІЧНИЙ ПРОЦЕС.