И88
Исследование возможностей определения потенциальной ненадежности пассивных элементов пленочных микросхем методом третьей гармоники : отчет о НИР (заключ.) / МОН України, ХИРЭ ; науч. рук. Б.Г. Бондарь ; исполн. : В.К. Сорокин и др. – Харьков, 1978. – 78 с.
Исследование возможностей определения потенциальной ненадежности пассивных элементов пленочных микросхем методом третьей гармоники : отчет о НИР (заключ.) / МОН України, ХИРЭ ; науч. рук. Б.Г. Бондарь ; исполн. : В.К. Сорокин и др. – Харьков, 1978. – 78 с.
Статистика використання: Видач: 0
Анотація:
В отчете разработана методика контроля надежности тонкопленочных резисторов микросхем. Суть методики состоит в определении параметра качества резистивной пленки микросхемы. Разработан и изготовлен измеритель напряжения третьей гармоники.