Т33
Теоретико-вероятностное обоснование методов метрологической аттестации лазерных информационно-измерительных систем : отчет о НИР / МОН України, ХИРЭ ; науч. рук. Л. И. Шкляров ; исполн. В.С. Азарин. – Харьков, 1977. – 72 с.
Теоретико-вероятностное обоснование методов метрологической аттестации лазерных информационно-измерительных систем : отчет о НИР / МОН України, ХИРЭ ; науч. рук. Л. И. Шкляров ; исполн. В.С. Азарин. – Харьков, 1977. – 72 с.
Статистика використання: Видач: 0
Анотація:
Работа посвящена вопросам теоретико-вероятностного обоснования методов аттестации ОКГ-дальномеров.
Тема:
- УДК
- 519.2 Теорія ймовірностей. Математична статистика Ключові слова
- похибки, погрешности, computational errors
- інформаційно-вимірювальні системи, ІВС, информационно-измерительные системы, ИИС
- якість, качество
- атестація, аттестация
- метрологічна атестація, метрологическая аттестация
- статистична обробка, статистическая обработка
- напівпровідникові лазерні далекоміри, полупроводниковые лазерные дальномеры
- віддалеміри, дальномеры