В отчете проанализированы возможности использования существующих методов измерения параметров полупроводниковых материалов при лабораторных исследоааниях их спецстойкости. Даны рекомендации по выбору целесообразных методов. Проведена необходимая детализация выбранных методов и разработаны рекомендации по подбору требующейся аппаратуры, оценке погрешностей, специфике экспериментов.
Предложен новый метод измерения продолжительности жизни неосновных носителей тока в полупроводниковых материалах, от которого можно ожидать увеличения точности измерения и некоторого упрощения светооптического узла измерительной установки.