В отчете изложены результаты исследования и разработок теоретических прикладных задач повышения эффективности производства полупроводниковых материалов.
Разработаны методы контроля качества продукции на основе многократных замеров электрофизических параметров и последующей их обработки с помощью специализированных процедур.

Разработаны адаптивные методы прогнозирования контролируемых показателей, отличающиеся высокой надежностью в условиях малых выборок и нестационарных рядов.