Целью исследований были разработка методов стабилизации параметров интегральных схем, совершенствование технологических операций для сокращения цикла выпуска микросхем, автоматизация технологического процесса юстировки пленочных резисторов. При проведении работ применялись стандартные приборы и методы определения сопротивления, его температурного коэффициента и коэффициента отжига.
Для разработки информационно-измерительной юстировочной системы применялись микропроцессорный вычислительный блок на базе персонального компьютера, а также ряд новых измерительно-управляющих блоков.