Т39
Тієкура Ів. Векторно-логічна інфраструктура вбудованого тестування цифрових систем на кристалах : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.05 "Комп'ютерні системи та компоненти" / Тієкура Ів ; МОНМС України, Харків. нац. ун-т радіоелектроніки. – Харків : ХНУРЕ, 2012. – 20 с.
Тієкура Ів. Векторно-логічна інфраструктура вбудованого тестування цифрових систем на кристалах : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.05 "Комп'ютерні системи та компоненти" / Тієкура Ів ; МОНМС України, Харків. нац. ун-т радіоелектроніки. – Харків : ХНУРЕ, 2012. – 20 с.
- Електронна версія (pdf / 680 Kb)
- Замовити
Статистика використання: Завантажень: 3 Видач: 0
Анотація:
Розроблена нова модель взаємодії дискретних об'єктів в кіберпросторі, яка
характеризується використанням скалярного і векторного значення бета-
метрики, що дозволяє у паралельному режимі вирішувати задачі синтезу та
аналізу діагностичної інформації. Удосконалена структурна модель цифрової
системи, що відрізняється наявністю транзакційного графа функціональних
модулів, інваріантна до рівнів ієрархії виробу. Також удосконалені методи
синтезу тестів і діагностування несправностей на основі граничного сканування для функціональностей. Архітектура логічного асоціативного мультипроцесора, яка відрізняється обмеженою системою команд для будованого сервісного обслуговування функціональностей цифрових систем на кристалах, дає можливість зменшити час діагностування.
характеризується використанням скалярного і векторного значення бета-
метрики, що дозволяє у паралельному режимі вирішувати задачі синтезу та
аналізу діагностичної інформації. Удосконалена структурна модель цифрової
системи, що відрізняється наявністю транзакційного графа функціональних
модулів, інваріантна до рівнів ієрархії виробу. Також удосконалені методи
синтезу тестів і діагностування несправностей на основі граничного сканування для функціональностей. Архітектура логічного асоціативного мультипроцесора, яка відрізняється обмеженою системою команд для будованого сервісного обслуговування функціональностей цифрових систем на кристалах, дає можливість зменшити час діагностування.
Тема:
- УДК
- 519.713 Автомати
- 681.326 Пристрої для управління. Пристрої контролю та перевірки. Пристрої профілактичної перевірки
- 658.512.011.56 Автоматизація проектування виробничих процесів Ключові слова
- тестування, тестирование, testing
- мультипроцесори, мультипроцессоры
- верифікація, верификация
- діагностування, диагностирование
- цифрові системи на кристалах, цифровые системы на кристаллах, Systems on Chip- SoC