Т39
Тиекура Ив. Векторно-логическая инфраструктура встроенного тестирования цифровых систем на кристаллах : дис. ... канд. техн. наук : 05.13.05 "Компьютерные системы и компоненты" / Тиекура Ив ; МОНМС Украины, Харьк. нац. ун-т радиоэлектроники. – Харків, 2011. – 182 с. – Библиогр.: с. 150–182.
Тиекура Ив. Векторно-логическая инфраструктура встроенного тестирования цифровых систем на кристаллах : дис. ... канд. техн. наук : 05.13.05 "Компьютерные системы и компоненты" / Тиекура Ив ; МОНМС Украины, Харьк. нац. ун-т радиоэлектроники. – Харків, 2011. – 182 с. – Библиогр.: с. 150–182.
Статистика використання: Видач: 0
Анотація:
Новая модель взаимодействия дискретных объектов в киберпространстве
позволяет точно и адекватно оценивать решения в процессе поиска и
распознавания любых объектов в векторном логическом пространстве,
а также в параллельном режиме решать задачи синтеза и анализа диагностической информации. Усовершенствованные методы синтеза тестов и диагностирования для функциональностей, заданными матричными формами описания поведения цифровых компонентов, отличающиеся параллелизмом векторных операций над таблицами неисправностей, позволили уменьшить объем памяти, время восстановления работоспособности цифровой системы. Усовершенствована архитектура логического ассоциативного мультипроцессора. Инфраструктура сервисного обслуживания позволяет существенно (30%) уменьшить время диагностирования аппаратных компонентов в процессе функционирования. Предложенные модели и методы существенно (20%) повышают тестопригодность цифровой системы, что позволяет уменьшить временные затраты на синтез диагностической информации, повысить качество
проектируемого изделия и выход годной продукции.
позволяет точно и адекватно оценивать решения в процессе поиска и
распознавания любых объектов в векторном логическом пространстве,
а также в параллельном режиме решать задачи синтеза и анализа диагностической информации. Усовершенствованные методы синтеза тестов и диагностирования для функциональностей, заданными матричными формами описания поведения цифровых компонентов, отличающиеся параллелизмом векторных операций над таблицами неисправностей, позволили уменьшить объем памяти, время восстановления работоспособности цифровой системы. Усовершенствована архитектура логического ассоциативного мультипроцессора. Инфраструктура сервисного обслуживания позволяет существенно (30%) уменьшить время диагностирования аппаратных компонентов в процессе функционирования. Предложенные модели и методы существенно (20%) повышают тестопригодность цифровой системы, что позволяет уменьшить временные затраты на синтез диагностической информации, повысить качество
проектируемого изделия и выход годной продукции.
Тема:
- УДК
- 519.713 Автомати
- 681.326 Пристрої для управління. Пристрої контролю та перевірки. Пристрої профілактичної перевірки
- 658.512.011.56 Автоматизація проектування виробничих процесів Ключові слова
- тестування, тестирование, testing
- мультипроцесори, мультипроцессоры
- верифікація, верификация
- діагностування, диагностирование
- цифрові системи на кристалах, цифровые системы на кристаллах, Systems on Chip- SoC